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계측장비

  • 보유장비
DIgital Microscope

광학현미경

모델명
VHX-X1(Keyence)
담당자
조소현 PM (031-778-7438)
장비위치
공용장비지원실 A
장비이용료
담당자 문의 부탁드립니다.
담당자 메모
- 금속, 세라믹, 반도체 등 다양한 소재의 표면·단면 관찰 및 정밀 치수 측정 가능
- 시료 크기: 20×20cm 이하, 두께: 5cm 이하 권장 / 분석 부위 사전 마킹
- 분석 일정 변경·취소는 사용 예정 시각 기준 24시간 전까지 가능
※ 투명한 시료(예: Glass, PET, ITO 등) 또는 바닥면이 곡면인 시료는 초점 인식이 어려워, 길이·두께 측정이 제한될 수 있음
주요 기능
 
초고해상도 관찰 1,222만 화소의 4K CMOS 센서와 4K 대응 렌즈 탑재
- 최소 20배~ 최대 6,000배의 광학 줌 기능으로 다양한 배율 확대 지원
- OPS-SEM 조명 기술을 통해 표면 요철과 미세 결함까지 고해상도로 재현
3차원 형상 정밀 계측 자동 초점 기능과 3D 프로파일링 기술을 통해 시편의 높이, 폭, 깊이 등 3차원 형상을 정밀 측정
- 표면 및 단면을 비파괴 방식으로 관찰 가능
- 2D/3D 이미지 저장, 면적·길이 등 다양한 분석 가능
다양한 시료 관찰 가능 금속, 반도체, 세라믹, 패키징 등 다양한 시료의 형상 분석, 결함 및 오염 관찰 가능
- 심도 합성 기능으로 단차가 있는 시편도 풀 포커스 고해상도 촬영 가능
- 연마·에칭된 금속 시편의 입계 및 미세조직을 고해상도로 관찰 가능
Specifications
 
카메라 • 이미지 센서 : 1/1.7형, 4K CMOS 센서 (약 1,222만 화소)
• 프레임 속도 : 최대 30fps (고화질 실시간 촬영)
• 해상도 모드 : 12,000(H) × 9,000(V) 화소 이미지 지원 
렌즈 및 조명 렌즈 : 고NA(개구수) 텔레센트릭 렌즈 탑재, 왜곡 없는 이미지 구현
• 배율 범위 : 20배 ~ 6,000배 (저배율 전체 관찰부터 미세 구조 관찰까지 대응)
• 조명 방식 : 링 조명, 링편사(4방향), 동축 조명, 동축 편사(4방향), 결합 조명(링+동축) 지원
• 링 제거 기능 : 반사 및 과다 노출 영역을 자동 보정하여 선명한 이미지 구현
• 관찰 및 분석 기능
    서치 라이팅 : 시편 형상 및 흠집 탐색 시 최적 조명 조건을 자동 설정 가능
   ② 포커스 추종 : XY 스테이지의 이동 시 자동으로 초점 유지
   ③ 심도 합성 : 여러 초점 이미지를 자동 합성하여 단차 시편도 전 영역 초점 유지

   ④ 라이브 합성 : 클릭 한 번으로 연속 초점 이동 및 실시간 화상 합성
   ⑤ 3D 형상 측정 : 높이, 단차 등 시편의 표면 형상을 3차원 데이터로 계측
   ⑥ 헐레이션 제거 : 반사물 표면 번쩍임 제거로 명확한 관찰 가능
스테이지 • 스테이지 크기 : 170 mm x 160 mm 전동식 XY 스테이지, Tilt 모드 지원
• 이동 범위 : XY축 최대 100 mm / Z축 50mm 
• 스탠드 연동: 카메라 관찰 방향 및 초점 위치를 수동·전동으로 조정 가능
   ① WD 표시 : Working Diastance가 시각적으로 표시되어 초점 조정에 용이함
   ② 오토 포커스 : 시편 높이 변화에 따라 렌즈가 자동 이동하여 초점을 맞춤
장비 신청 절차
기업→센터 센터 기업
회원가입 및
계측장비 사용신청
견적서 발송 견적서 확인 및
사업자등록증 전달
 
센터 기업센터 센터 기업
담당자 승인 장비 사용 청구서 발송 장비 사용료 납부

선 사용, 후 납부 원칙이며, 장비사용료에 대한 문의는 담당자를 통해 문의해 주세요. 
 
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