- 보유장비
High-speed Interconnect Analyzer (VNA+TDR)
고속 인터페이스 분석용 벡터 네트워크 분석기
- 담당자 메모
- - PCB·패키지·커넥터 등 고속 신호 경로의 반사·임피던스 불연속 등 SI 특성을 TDR/S-parameter 기반으로 분석하는 장비
- 고속 인터페이스(PCIe, DDR 등)구조의 품질 확인 및 신호 무결성 평가에 활용
- 분석 일정 변경·취소는 사용 예정 시각 24시간 전까지 가능
(※ 측정 가능한 DUT 형태 (커넥터,보드 구조)에 따라 연결 가능 여부가 달라질 수 있어, 담당자와 사전 확인 필요)
주요 기능
- 시간·주파수 도메인 동시 분석 지원 (VNA + TDR 통합)
- DC ~ 40 GHz 주파수 범위에서 S-Parameter 측정 및 전송 특성 분석
- 8.5 ps 시간 해상도 기반 TDR 임피던스 프로파일링 (25 ~ 125 Ω)
- 자동 보정(Calibration-Free) 기능 제공으로 별도 보정 절차 없이 신뢰성 있는 데이터 확보
- 스미스 차트 표시, CTEL(Channel/TDR Eye Loss), De-embedding, 타임 게이팅(Time Gating) 등 다양한 고급 분석 기능 제공
- 외부 계측기 측정 데이터 Import 및 후처리 분석 지원
- PCIe, DDR, USB 등 차세대 고속 인터커넥트 및 5G/RF 회로의 신호 무결성 검증에 활용
- DC ~ 40 GHz 주파수 범위에서 S-Parameter 측정 및 전송 특성 분석
- 8.5 ps 시간 해상도 기반 TDR 임피던스 프로파일링 (25 ~ 125 Ω)
- 자동 보정(Calibration-Free) 기능 제공으로 별도 보정 절차 없이 신뢰성 있는 데이터 확보
- 스미스 차트 표시, CTEL(Channel/TDR Eye Loss), De-embedding, 타임 게이팅(Time Gating) 등 다양한 고급 분석 기능 제공
- 외부 계측기 측정 데이터 Import 및 후처리 분석 지원
- PCIe, DDR, USB 등 차세대 고속 인터커넥트 및 5G/RF 회로의 신호 무결성 검증에 활용
주요 사양
• 기본 사양 (WavePulser 40iX)
측정 포트 수: 4포트, 2.92 mm 커넥터
주파수 범위: DC ~ 40 GHz
S-parameter 지원: Single-ended, Differential, Mixed-mode (S11, S12, S21, S22)
시간 해상도/Rise time: 8.5 ps (Impulse/Step)
임피던스 측정 범위: 25 ~ 125 Ω, Differential/Common Mode 모두 지원
공간 분해능: < 1mm
측정/분석 방식: VNA + TDR 통합 (주파수·시간 도메인 동시 분석)
보정 방식: 내부 자동 보정(Calibration-Free) 및 수동 OLST 지원
지원 분석 항목
- S-Parameter 측정 (삽입 손실, 반사 손실 등)
- TDR 기반 임피던스 프로파일링 및 불연속 구간 검출
- 신호 무결성 분석 (Eye-Diagram, Jitter)
- Smith Chart 표시
- CTEL(Channel/TDR Eye Loss), De-embedding, Time Gating
• 기능 지원
다양한 Display Mode 제공: Single, Dual, Tandem, Triple, Quad, Quattro, Hex, Octal, Smith Chart
데이터 호환성: 외부 계측기(예: 다양한 제조사의 오실로스코프) 측정 데이터 Import 및 후처리 분석 지원
결과 처리 및 저장: 2D 그래프 기반 결과 시각화 및 분석 데이터 저장 가능
측정 포트 수: 4포트, 2.92 mm 커넥터
주파수 범위: DC ~ 40 GHz
S-parameter 지원: Single-ended, Differential, Mixed-mode (S11, S12, S21, S22)
시간 해상도/Rise time: 8.5 ps (Impulse/Step)
임피던스 측정 범위: 25 ~ 125 Ω, Differential/Common Mode 모두 지원
공간 분해능: < 1mm
측정/분석 방식: VNA + TDR 통합 (주파수·시간 도메인 동시 분석)
보정 방식: 내부 자동 보정(Calibration-Free) 및 수동 OLST 지원
지원 분석 항목
- S-Parameter 측정 (삽입 손실, 반사 손실 등)
- TDR 기반 임피던스 프로파일링 및 불연속 구간 검출
- 신호 무결성 분석 (Eye-Diagram, Jitter)
- Smith Chart 표시
- CTEL(Channel/TDR Eye Loss), De-embedding, Time Gating
• 기능 지원
다양한 Display Mode 제공: Single, Dual, Tandem, Triple, Quad, Quattro, Hex, Octal, Smith Chart
데이터 호환성: 외부 계측기(예: 다양한 제조사의 오실로스코프) 측정 데이터 Import 및 후처리 분석 지원
결과 처리 및 저장: 2D 그래프 기반 결과 시각화 및 분석 데이터 저장 가능
장비 사용 신청 절차
| ①기업→센터 | ▶ | ②센터 | ▶ | ③기업 |
| 회원가입 및 계측장비 사용신청 |
견적서 발송 | 견적서 확인 및 사업자등록증 전달 |
| ▶ | ④센터 | ▶ | ⑤기업↔센터 | ▶ | ⑥센터 | ▶ | ⑦기업 |
| 담당자 승인 | 장비 사용 | 청구서 발송 | 장비 사용료 납부 |
※선 사용, 후 납부 원칙이며, 장비사용료 관련 문의는 담당자에게 문의해주시기 바랍니다.
※장비 사용 전, 담당자에게 사전 문의해주시기 바랍니다.
