- 보유장비
High-speed Interconnect Analyzer (VNA+TDR)
고속 인터커넥트 벡터 네트워크 분석기
- 담당자 메모
- - DC~40 GHz 고주파 대역에서 S-Parameter 측정 및 평가
- 8.5 ps 시간 해상도 기반 TDR 분석 (임피던스 범위 25~125 Ω)
- 자동 보정(Calibration 불필요) 및 시간·주파수 도메인 동시 분석 지원
- 고속 신호 전송선로의 반사, 손실, 불연속 구간 정밀 분석
- PCIe, DDR, USB 등 차세대 인터커넥트 규격의 Eye-diagram, Jitter 평가
- 5G/고속 RF 회로 및 패키지 인터커넥트 성능 평가 지원
주요 기능 및 활용
- 시간·주파수 도메인 동시 분석 지원 (VNA + TDR 통합)
- DC ~ 40 GHz 주파수 범위에서 S-Parameter 측정 및 전송 특성 분석
- 8.5 ps 시간 해상도 기반 TDR 임피던스 프로파일링 (25 ~ 125 Ω)
- 자동 보정(Calibration-Free) 기능 제공으로 별도 보정 절차 없이 신뢰성 있는 데이터 확보
- 스미스 차트 표시, CTEL(Channel/TDR Eye Loss), De-embedding, 타임 게이팅(Time Gating) 등 다양한 고급 분석 기능 제공
- 외부 계측기 측정 데이터 Import 및 후처리 분석 지원
- PCIe, DDR, USB 등 차세대 고속 인터커넥트 및 5G/RF 회로의 신호 무결성 검증에 활용
- DC ~ 40 GHz 주파수 범위에서 S-Parameter 측정 및 전송 특성 분석
- 8.5 ps 시간 해상도 기반 TDR 임피던스 프로파일링 (25 ~ 125 Ω)
- 자동 보정(Calibration-Free) 기능 제공으로 별도 보정 절차 없이 신뢰성 있는 데이터 확보
- 스미스 차트 표시, CTEL(Channel/TDR Eye Loss), De-embedding, 타임 게이팅(Time Gating) 등 다양한 고급 분석 기능 제공
- 외부 계측기 측정 데이터 Import 및 후처리 분석 지원
- PCIe, DDR, USB 등 차세대 고속 인터커넥트 및 5G/RF 회로의 신호 무결성 검증에 활용
주요 사양
• 기본 사양 (WavePulser 40iX)
측정 포트 수: 4포트, 2.92 mm 커넥터
주파수 범위: DC ~ 40 GHz
S-parameter 지원: Single-ended, Differential, Mixed-mode (S11, S12, S21, S22)
시간 해상도/Rise time: 8.5 ps (Impulse/Step)
임피던스 측정 범위: 25 ~ 125 Ω, Differential/Common Mode 모두 지원
공간 분해능: < 1mm
측정/분석 방식: VNA + TDR 통합 (주파수·시간 도메인 동시 분석)
보정 방식: 내부 자동 보정(Calibration-Free) 및 수동 OLST 지원
지원 분석 항목
- S-Parameter 측정 (삽입 손실, 반사 손실 등)
- TDR 기반 임피던스 프로파일링 및 불연속 구간 검출
- 신호 무결성 분석 (Eye-Diagram, Jitter)
- Smith Chart 표시
- CTEL(Channel/TDR Eye Loss), De-embedding, Time Gating
• 기능 지원
다양한 Display Mode 제공: Single, Dual, Tandem, Triple, Quad, Quattro, Hex, Octal, Smith Chart
데이터 호환성: 외부 계측기(예: 다양한 제조사의 오실로스코프) 측정 데이터 Import 및 후처리 분석 지원
결과 처리 및 저장: 2D 그래프 기반 결과 시각화 및 분석 데이터 저장 가능
측정 포트 수: 4포트, 2.92 mm 커넥터
주파수 범위: DC ~ 40 GHz
S-parameter 지원: Single-ended, Differential, Mixed-mode (S11, S12, S21, S22)
시간 해상도/Rise time: 8.5 ps (Impulse/Step)
임피던스 측정 범위: 25 ~ 125 Ω, Differential/Common Mode 모두 지원
공간 분해능: < 1mm
측정/분석 방식: VNA + TDR 통합 (주파수·시간 도메인 동시 분석)
보정 방식: 내부 자동 보정(Calibration-Free) 및 수동 OLST 지원
지원 분석 항목
- S-Parameter 측정 (삽입 손실, 반사 손실 등)
- TDR 기반 임피던스 프로파일링 및 불연속 구간 검출
- 신호 무결성 분석 (Eye-Diagram, Jitter)
- Smith Chart 표시
- CTEL(Channel/TDR Eye Loss), De-embedding, Time Gating
• 기능 지원
다양한 Display Mode 제공: Single, Dual, Tandem, Triple, Quad, Quattro, Hex, Octal, Smith Chart
데이터 호환성: 외부 계측기(예: 다양한 제조사의 오실로스코프) 측정 데이터 Import 및 후처리 분석 지원
결과 처리 및 저장: 2D 그래프 기반 결과 시각화 및 분석 데이터 저장 가능
