- 예정장비
Arbitrary Waveform Generator
임의신호 발생기
- 담당자 메모
- ※ 도입 예정 장비로, 장비사 및 모델은 변경될 수 있습니다.
※ 사용 관련 문의는 담당자 문의를 이용해주세요.
- 홈페이지를 통해 장비 사용 신청
- 담당자 적정성 검토
- 오프라인 분석 지원
담당자 문의
장비 예약 불가
활용 및 기능
1. 송수신기 검증
• 급 광통신 송수신기의 데이터 전송 성능 및 수신기 마진 테스트 지원
• 지터, 위상 노이즈, 채널 불일치 등 전송 품질 요소를 정밀 분석
2. 인터페이스 SerDes 및 SoC 검증
• PCIe 6.0/7.0, CXL 3.0, USB 4.0 등 차세대 고속 디지털 인터페이스 검증 환경 제공
• 융합 SoC의 데이터 입출력 정확도 및 성능 평가
3. 변조 신호 및 실시간 파형 생성
• QPSK, 16/64/256 QAM 등 복잡한 변조 신호 지원
• Optics, Sub-THz 통신용 실시간 파형 생성 가능
• 통신·반도체 회로의 송수신 성능 검증에 최적화
4. 마진 테스트 및 신호 품질 분석
• 동기화 기능을 통한 대규모 시스템 환경 재현
• Eye Diagram, BER(Bit Error Rate), Rise/Fall Time 제어 기능 활용
• Eye Diagram, BER(Bit Error Rate), Rise/Fall Time 제어 기능 활용
• 신호 품질 분석 및 수신 안정성 검증
※ 도입 예정 장비로, 장비사 및 모델은 변경될 수 있습니다.
※ 도입 예정 장비로, 장비사 및 모델은 변경될 수 있습니다.
세부 사양 및 규격
1. 속도: 최대 128 GSa/s/ channel(4채널 동시 출력) 이상
2. 대역폭: 최대 50 GHz 이상
3. 출력 전압: 최대 1.4 Vpp.diff (128 GBaud 디지털 보정 활성화 시) 이상
4. 세로 해상도: 8비트, 고신호 충실도 제공
5. 채널: 최대 4채널
6. 타입: 싱글 엔드 신호, 차동 신호
7. 임피던스: 50 Ω
8. 커넥터 타입: 1.85 mm(female)
9. 진폭 범위: 100 mVpp.se ~ 0.83 Vpp.se, 200 mVpp,diff ~ 1.66 Vpp,diff @ 400MHz, 50Ω
10. 진폭 분해능: 1 mVse
11. 파형 메모리: 512KSa / channel 이상
12. 유효 비트 수: 5.7 bits @ Fout=DC ~50GHz, Fsa=100GHz)
13. 지터 성능: 내재 (Random Jitter) < 75 fs RMS
14. 상승/하강 시간: 최소 5 ps @20–80%
15. 변조 방식 지원: NRZ, PAM-3/4/6/8, QAM 및 사용자 정의 파형
※ 도입 예정 장비로, 장비사 및 모델은 변경될 수 있습니다.
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